FHHL系列回路電阻測(cè)試儀是電力系統(tǒng)工作中常用的斷路器試驗(yàn)儀器之一，目前斷路器直阻測(cè)試都是采用典型的四線制測(cè)量法，在現(xiàn)場(chǎng)試驗(yàn)時(shí)會(huì)由于電壓測(cè)試線接觸不良，出現(xiàn)錯(cuò)誤判斷甚至不能進(jìn)行測(cè)試的問(wèn)題。

　　回路電阻測(cè)試儀采用典型的四線制測(cè)量法，用高頻開關(guān)電源產(chǎn)生大于100A的直流測(cè)試電流，施加于制造廠規(guī)定的被測(cè)體兩端，并測(cè)量電流流過(guò)被測(cè)體產(chǎn)生的壓降，采樣電路同時(shí)對(duì)電壓輸入端和內(nèi)部電流分流器電壓進(jìn)行采樣，取得的信號(hào)經(jīng)放大器放大，由A/D轉(zhuǎn)換器將模擬信號(hào)轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號(hào)后，再經(jīng)微處理器對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行濾波、運(yùn)算、處理，通過(guò)計(jì)算電壓值和電流值之比得出被測(cè)體的直流電阻值，后送顯示器顯示出此次測(cè)量的電流和電阻值。并可以在當(dāng)電流測(cè)試回路出現(xiàn)斷線或接觸不良時(shí)，儀器會(huì)根據(jù)電流分流器上的電壓判斷出電流回路接觸不良或開路。

　　現(xiàn)有測(cè)試方法存在著居多問(wèn)題：電壓回路開路，測(cè)試現(xiàn)場(chǎng)沒(méi)有強(qiáng)電場(chǎng)干擾、電壓回路接觸不良、電壓回路開路或接觸不良，測(cè)試現(xiàn)場(chǎng)有較強(qiáng)的電磁干擾等問(wèn)題。

　　根據(jù)對(duì)以上問(wèn)題分析發(fā)現(xiàn)，改進(jìn)四線制測(cè)量法，在典型四線制測(cè)量法的基礎(chǔ)上增加一個(gè)輔助的小電流恒流源，并通過(guò)繼電器接到典型四線制測(cè)量法的電壓V＋、V－測(cè)試線上，可解決目前傳統(tǒng)回路電阻測(cè)試儀存在的問(wèn)題。這打破長(zhǎng)期以來(lái)四線制測(cè)量法不在電壓測(cè)試線上加電流的局限，成功解決了回路電阻測(cè)試儀由于電壓線開路或接觸不良造成的虛假數(shù)據(jù)問(wèn)題，并成功實(shí)現(xiàn)了智能化測(cè)量。

　　回路電阻測(cè)試儀測(cè)試時(shí)先通過(guò)繼電器接點(diǎn)將輔助恒流源接到電壓測(cè)試線的兩端，電壓測(cè)試線通過(guò)試品電阻構(gòu)成回路。當(dāng)電壓線接于斷路器端子排后，小電流恒流源若工作在恒流狀態(tài)下，則整個(gè)電壓回路的電阻比較小，電壓測(cè)試端測(cè)試的電壓值較小，此時(shí)警告提示信號(hào)不啟動(dòng)，表明電壓線鉗夾與斷路器端子排接觸良好；如果電壓線接于斷路器端子排后，小電流恒流源不能工作在恒流狀態(tài)，電壓測(cè)試端測(cè)試的電壓值很大，接近小電流恒流源的開路電壓，則可以判斷電壓線接觸不良，此時(shí)啟動(dòng)警告提示信號(hào)，提醒測(cè)試人員處理接觸異常。

　　通過(guò)繼電器斷開輔助的小電流恒流源，再接通大電流恒流源給試品加電測(cè)試，通過(guò)采集電壓電流的數(shù)值，計(jì)算試品的電阻值。此時(shí)測(cè)出的數(shù)值一定是試品的真實(shí)的電阻值，杜絕了虛假數(shù)據(jù)的產(chǎn)生。即使現(xiàn)場(chǎng)有較強(qiáng)電場(chǎng)干擾，由于電壓回路中的電阻很小，感應(yīng)到電壓測(cè)試端的電壓為共模電壓，本產(chǎn)品通過(guò)電容接地的方式將這個(gè)交流共模干擾降到很低，不會(huì)對(duì)測(cè)試精度產(chǎn)生影響。